3月17日至21日，财政部会计资格评价中心党委书记、主任冯卫东一行出席在美国佛罗里达州奥兰多市（Orlando）召开的国际考试行业协会（Association of Test Publishers,缩写为ATP）第20届年会。

本届年会以“考试中的创新：挑战·变革·发展（Innovations in testing: Challenge.Transform.Evolve.)”

为主题，议题包括考试测评技术创新、考试安全与防范措施、考试信息分析与管理、人才评价与选拔、教育测量与心理学等内容，突出了考试测评行业在信息网络技术浪潮下所面临的变革与对策。来自全球考试主办方、考试技术与运营服务方、考试内容开发机构、心理与测评研究机构等30个国家和地区考试业界代表1,300余人参加了本届年会。